List of Publications

2017 year

1.         瀧本 雄毅、山梨 眞生、Francesco Paolo Romano、辻 幸一、全視野型EDXRFイメージング装置の開発と特性評価、X線分析の進歩48 (2017) 159-168.

2.         S. Aida, T. Matsuno, T. Hasegawa, K. Tsuji, Application of principal component analysis for improvement of X-ray fluorescence images obtained by polycapillary-based micro-XRF technique, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B, 402 (2017) 267-273.

3.         幸一、様々な分野で活躍する分析化学:その将来を探る、日本分析化学会第77 回分析化学討論会「展望とトピックス」、公益社団法人日本分析化学会 展望とトピックス委員会編(20172.

4.         細見 凌平、陳 自義、土井 教史、秋岡 幸司、辻 幸一、水溶液中での鉄鋼材料腐食過程の共焦点型微小部蛍光X線分析法によるその場観察、分析化学(印刷中).

5.         K. Tsuji, "X-ray Technology", in Kirk-Othmer Encyclopedia of Chemical Technology, John Wiley & Sons, Inc., invited, submitted (2017).

6.         会田 翔太、瀧本 雄毅、作村 拓人、松下 一之、庄司 孝、河原 直樹、辻 幸一、波長分散型蛍光X線分析による大面積イメージングおよび固体試料の溶解過程の元素モニタリング、分析化学(投稿中).

7.         山梨 眞生、山内 葵、辻 幸一、全視野型蛍光X線定量イメージングに関する基礎的検討、分析化学(投稿中)

8.         幸一「蛍光X線元素イメージング」(分担執筆) 、「続 入門鉄鋼分析技術(掘法廖兵辧貌本鉄鋼協会 評価・分析・解析部会編、日本鉄鋼協会 (2017) (印刷中)

 

2016 year

1.         R. Dalipi, L. Borgese, A. Casaroli, M. Boniardi, U. Fittschen, K. Tsuji, L.E. Depero, Study of metal release from stainless steels in simulated food contact by means of total reflection X-ray fluorescence, Journal of Food Engineering 173 (2016) 85-91.

2.         Kazuhiko Nakano, Atsushi Tabe, Susumu Shimoyama, Kouichi Tsuji, Visualizing a black cat drawing hidden inside the painting by confocal micro-XRF analysis, Microchemical Journal, 126 (2016) 496-500.

3.         山梨 眞生、後藤 淳志、辻 幸一、「蛍光X線分析用標準物質の均質性と微小部蛍光X線分析への適応」、X線分析の進歩47 (2016) 263-270

4.         河原 直樹、松野 剛士、 幸一、「共焦点型微小部蛍光X線分析におけるX線理論強度計算」、X線分析の進歩47 (2016) 293-300.

5.         Y. Tabuchi, K. Tsuji, TXRF intensity dependence on position of dried residue on sample carrier and TXRF determination of halogen in liquid samples, X-Ray Spectrometry, 45 (2016) 197-201.

6.         Kouichi Tsuji, Chapter11-1 “X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS” and Chapter 14-2-2 “Soft and hard X-ray microscopes and their applications”, in A Guide to Synchrotron Radiation Science, edited by Makoto Watanabe, Shigeo Sato, Ian Munro and G. S. Lodha, Narosa Publishing House Pvt. Ltd., 2016.

7.         N. Kawahara, T. Matsuno, Y. Takimoto, K. Tsuji, Secondary Excitation Observed in Lateral Scan Using Confocal Micro-XRF, Advances in X-ray Analysis, 59 (2016) 77-84.

8.         T. Matsuno, Y. Tabuchi, R. Hosomi, T. Hasegawa, N. Kometani, K. Tsuji, Sample Preparation for TXRF Analysis of Metal Particles in Used Machine Oils and Preliminary Research for Application of Principal Component Analysis, Advances in X-ray Analysis, 59 (2016) 112-119.

9.         Y. Takimoto, M. Yamanashi, S. Kato, T. Shoji, N. Kometani, K. Tsuji, WD-XRF Imaging with Polycapillary Optics under Glancing Incidence Geometry, Advances in X-ray Analysis, 59 (2016) 120-124.

10.     幸一8章 全反射蛍光X線分析法」(分担執筆)、「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店 (2016) 130-141.

11.     幸一「141節 斜出射X線分析」(分担執筆)、「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店 (2016) 202-203.

12.     幸一「142節 ポリキャピラリーX線集光素子と微小部蛍光X線分析」(分担執筆)、「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店 (2016) 204-205.

13.     幸一「143節 共焦点型微小部蛍光X線分析」(分担執筆)、「蛍光X線分析の実際 第2版」朝倉書店 (2016) 206-207.

 

2015 year

1.         Kouichi Tsuji, Atsushi Tabe, Peter Wobrauscheck, Christina Streli, Secondary Excitation Process for Quantitative Confocal 3D-XRF Analysis, Advances in X-ray Analysis, 58 (2015) 191-199.

2.         Ryota Yagi and Kouichi Tsuji, Confocal micro-XRF analysis of light elements with Rh X-ray tube and its application for painted steel sheet, X-Ray Spectrom., 44 (2015) 186-189.

3.         Kouichi Tsuji, “Combination of X-ray analytical technique and SPM”, in “Prospects in photon-stimulated scanning probe microscopy” to be published by Springer.

4.         北戸 雄大、平野 新太郎、米谷 紀嗣、 幸一、共焦点型蛍光X線分析法による置換めっきプロセスのモニタリング、X線分析の進歩46 (2015) 269-276.

5.         A. Liedl, S.B. Dabagov, D. Hampai, C. Polese, and K. Tsuji, On X-Ray Channeling in a Vibrating Capillary, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., B, 355 (2015) 289-292.

6.         Masaki Yamanashi, Noritsugu Kometani, and Kouichi Tsuji, Preliminary experiment of X-ray diffraction imaging, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B, 355 (2015) 272-275.

7.         幸一、「玩具表面から溶出する微量な重金属のモニター技術」、「微量金属分析とその前処理技術」108節、株式会社技術情報協会 (2015) 423-429

8.         Kouichi Tsuji (Book review), Total-reflection X-ray fluorescence analysis and related methods, Second Edition Edited by Reinhold Klockenkaemper and Alex von Bohlen (John Wiley & Sons Inc., New Jersey, 2015), X-ray spectrom., 44 (2015) 417.

9.         Rogerta Dalipi, Laura Borgese, Annalisa Zacco, Kouichi Tsuji, Emanuele Sangiorgi, Roberto Piro, Elza Bontempi and Laura E. Depero, Determination of trace elements in Italian wines by means of total reflection X-ray fluorescence spectroscopy, Intern. J. Environ. Anal. Chem., 95 (2015) 1208-1218.

10.     Kouichi Tsuji, Atsushi Tabe, Peter Wobrauscheck, and Christina Streli, Secondary excitation process for quantitative confocal 3D-XRF analysis, Powder Diffraction, 30 (2015) 109-112.

11.     Kouichi Tsuji, Tsuyoshi Matsuno, Yuki Takimoto, Masaki Yamanashi, Noritsugu Kometani, Yuji C. Sasaki, Takeshi Hasegawa, Shuichi Kato, Takashi Yamada, Takashi Shoji, Naoki Kawahara, New developments of X-ray fluorescence imaging techniques in laboratory, Spectrochim. Acta Part B, 113 (2015) 43-53.

 

2014 year

1.         江本 精二、辻 幸一、加藤 秀一、山田 隆、庄司 孝、「ストレートポリキャピラリーと二次元検出器を備えた波長分散型蛍光X 線イメージング装置の開発と特性評価」X線分析の進歩45 (2014) 129-138.

2.         八木 良太、平野 新太郎、辻 幸一、Mareike FalkJurgen JanekUrsula Fittschen、「共焦点型3 次元蛍光X 線分析法によるリチウムイオン二次電池の電極材料分析」X線分析の進歩45 (2014) 241-250.

3.         秋岡 幸司、辻 幸一、「第62 回デンバーX 線会議報告」X線分析の進歩45 (2014) 341-344.

4.         幸一、「第49 X 線分析討論会および第15 回全反射蛍光X 線分析法(TXRF2013)国際会議合同会議報告」X線分析の進歩45 (2014) 349-357.

5.         幸一、平野 新太郎、八木 良太、中澤 隆、秋岡 幸司、土井 教史、「3次元蛍光X線分析法による鉄鋼試料表面近傍の元素分布の可視化」、鉄と鋼100 (2014) 897-904.

6.         S. Smolek, T. Nakazawa, A. Tabe, K. Nakano, K. Tsuji, C. Streli, and P. Wobrauschek, Comparison of two confocal micro-XRF spectrometers with different design aspects, X-Ray Spectrom., 43 (2014) 93-101.

7.         S. Hirano, K. Akioka, T. Doi, M. Arai, and K. Tsuji, Elemental depth imaging of solutions for monitoring corrosion process of steel sheet by confocal micro-XRF, X-Ray Spectrom., 43 (2014) 216-220.

8.         浪田 真由、恩地 啓実、板谷 天馬、中澤 隆、辻 幸一、矢持 進、「微小部蛍光X線分析法を用いた都市河川大和川における天然アユ遡上数の推定」環境アセスメント学会誌12(1) (2014) 101-108.

9.         K. Akioka, T. Nakazawa, T. Doi, M. Arai, and K. Tsuji, Underfilm corrosion of steel sheets observed by confocal 3D-XRF technique, Powder Diffraction, 29 (2014) 151-154.

10.     Laura Borgese, Fabjola Bilo, Kouichi Tsuji, Ramon Fernandez-Ruiz, Eva Margui, Christina Streli, Giancarlo Pepponi, Hagen Stosnach, Takashi Yamada, Peter Vandenabeele, David M. Maina, Michael Gatari, Keith D. Shepherd, Erick K. Towett, Leonardo Bennun, Graciela Custo, Cristina Vasquez, Laura E. Depero, First Total Reflection X-Ray Fluorescence round-robin test of water samples: Preliminary results, Spectrochimica Acta Part B, 101 (2014) 6-14.

11.     Takafumi Ashida, Kouichi Tsuji, Development of a compact grazing exit X-ray fluorescence spectrometer for fast trace elemental analysis, Spectrochimica Acta Part B, 101 (2014) 200-203.

12.     Kouichi Tsuji and Yohichi Gohshi, Editor of thematic issue in Spectrochim. Acta Part B on 15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods, and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis TXRF2013, http://www.journals.elsevier.com/spectrochimica-acta-part-b-atomic-spectroscopy/virtual-special-issue/selected-papers-from-txrf2013/

 

2013 year

1.         S. Komatani, K. Nakamachi, K. Nakano, S. Ohzawa, H. Uchihara, A. Bando, and K. Tsuji, Fundamental Characteristics of Hybrid X-ray Focusing Optics for Micro X-ray Fluorescence Analysis, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B, 309 (2013) 260-263.

2.         S. Emoto, K. Otsuki, K. Nakano, and K. Tsuji, Elemental depth profiling of forensic samples by confocal 3D-XRF method, Advances in X-ray Analysis, 56 (2013) 217-224.

3.         S. Komatani, S. Hirano, T. Aoyama, Y. Yokota, H. Ueda, and K. Tsuji, Micro X-ray Beam Produced with a Single Glass Capillary for XRF Analysis, Advances in X-ray Analysis, 56 (2013) 225-233.

4.         T. Ohmori, S. Kato, M. Doi, T. Shoji, and K. Tsuji, Wavelength dispersive X-ray fluorescence imaging using a high-sensitivity imaging sensor, Spectrochim. Acta, Part B, 83-84 (2013) 56-60.

5.         T. Nakazawa and K. Tsuji, Depth-selective elemental imaging of microSD card by confocal micro-XRF analysis, X-Ray Spectrom., 42 (2013) 123-127.

6.         T. Nakazawa and K. Tsuji, Development of a high resolution confocal micro-XRF instrument equipped with a vacuum chamber, X-Ray Spectrom., 42 (2013) 374-379.

7.         松矢 淳宣、辻 幸一、「複合型X線光学素子を備えた微小部蛍光X線分析装置の開発と評価」、X線分析の進歩44 (2013) 111-119.

8.         平野 新太郎、「第61 回デンバーX 線会議2012 報告」(国際会議報告)、X線分析の進歩44 (2013) 327-330.

9.         K. Tsuji and K. Shimizu, SEM Observation of Inclusions in Steel Samples after Fast Surface Cleaning by Glow Discharge, ISIJ International, 53 (2013) 1936-1938.

10.     F. Onoue and K. Tsuji, X-Ray Elemental Imaging in Depth by Combination of FE-SEM-EDS and Glow Discharge Sputtering, ISIJ International, 53 (2013) 1939-1942.

11.     K. Nakano, K. Akioka, T. Doi, M. Arai, H. Takabe, and K. Tsuji, Elemental Depth Analysis of Corroded Paint-Coated Steel by Confocal Micro-XRF Method, ISIJ International, 53 (2013) 1953-1957.

12.     幸一、「蛍光X線イメージング」(総説記事)、分光研究62 (2013) 119-127.

 

2012 year

1.         K. Tsuji, K. Nakano, Y. Takahashi, K. Hayashi, C.-U. Ro, X-ray Spectrometry, Anal. Chem., 84 (2012) 636-668.

2.         駒谷 慎太郎、青山 朋樹、大澤 澄人、辻 幸一、「小型X 線分析顕微鏡の開発」、X線分析の進歩43 (2012) 241-247.

3.         吉岡 達史、今西 由紀子、辻 幸一、高部 秀樹、秋岡 幸司、土井 教史、荒井 正浩、「海水試料の全反射蛍光X 線分析における試料準備方法の検討」、X線分析の進歩43 (2012) 211-221.

4.         T. Ohmori, M. Hatayama, H. Takenaka, K. Tsuji, Development of 2d Dispersive Device for XRF Imaging Spectrometer, Advances in X-ray Analysis, 55 (2012) 228-233.

5.         中澤 隆、中野 和彦、恩地 啓実、浪田 真由、矢持 進、辻 幸一、「微小部蛍光X線分析法によるアユの耳石中のSr分布解析」、分析化学61 (2012) 637-642.

6.         T. Ohmori, M. Hatayama, T. Ohchi, H. Ito, H. Takenaka, K. Tsuji, Development of X-ray 2D dispersive device for WD-XRF imaging spectrometer, Powder Diffraction, 27 (2012) 71-74.

7.         Y. Nishida, K. Tsuji, Liquid / Liquid Near Interface Analysis by Micro-XRF Using Needle-Type Collimators, Memoirs of the Faculty of Engineering Osaka City University, 53 (2012) 27-30.

 

2011 year

1.         K. Tsuji, "Micro-X-ray Fluorescence" in Encyclopedia of Analytical Chemistry, Supplementary vol. S1-S3, eds. R.A. Meyers, John Wiley & Sons, Ltd. Chichester, UK, (2011) 1949-1972.

2.         K. Tsuji, K. Nakano, Development of a new confocal 3D-XRF instrument with an X-ray tube, J. Anal. At. Spectrom., 26 (2011) 305-309.

3.         K. Nakano, C. Nishi, K. Otsuki, Y. Nishiwaki, K. Tsuji, Depth Elemental Imaging of Forensic Samples by Confocal micro-XRF Method, Anal. Chem., 83 (2011) 3477-3483.

4.         T. Nakazawa, K. Nakano, M. Yoshida, K. Tsuji, Enhancement of XRF intensity by using Au coated glass-capillary, Advances in X-ray Analysis, 54 (2011) 238-246.

5.         T. Nakazawa, K. Nakano, M. Yoshida, K. Tsuji, Enhancement of XRF intensity by using Au-coated glass monocapillary, Powder Diffraction, 26 (2011) 163-167.

6.         幸一、「蛍光X線分析法による表面界面元素分析」(総説記事)、日本接着学会誌47 (2011) 444-452.

7.         K. Tsuji, T. Ohmori, M. Yamaguchi, Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Imaging, Anal. Chem., 83 (2011) 6389-6394.

8.         幸一、「固体試料の内部を探る世界最高レベルの3次元蛍光X線分析法の開発」、「共創・協奏 −産学連携成功のキーワード−」、独立行政法人科学技術振興機構JSTイノベーションプラザ大阪編、丸善、(2011) 271-282.

9.         中澤 隆、中野 和彦、辻 幸一、「微小部蛍光X線分析と元素イメージング」(進歩総説)、ぶんせき11 (2011) 654-661.

10.     幸一、「分析化学用語辞典」社団法人日本分析化学会編(X線関連の用語解説を分担執筆)、オーム社出版局、(2011).

 

2010 year

1.         Y. Imanishi, A. Bando, S. Komatani, S. Wada, K. Tsuji, Experimental parameters for XRF analysis of soils, Advances in X-ray Analysis, 53 (2010) 248-255.

2.         川又 誠也、今西 由紀子、中野 和彦、辻 幸一、「プラスチック試料からの溶出液中金属元素の全反射蛍光X線分析法」、X線分析の進歩41 (2010) 185-193.

3.         K. Nakano, K. Tsuji, Development of Laboratory Confocal 3D-XRF Spectrometer and Nondestructive Depth Profiling, J. Anal. At. Spectrom., 25 (2010) 562-569.

4.         T. Yonehara, D. Orita, K. Nakano, S. Komatani, S. Ohzawa, A. Bando, H. Uchihara, K. Tsuji, Development of a transportable μ-XRF spectrometer with polycapillary half lens, X-Ray Spectrom., 39 (2010) 78-82.

5.         T. Yonehara, M. Yamaguchi, K. Tsuji, X-ray fluorescence imaging with polycapillary X-ray optics, Spectrochim. Acta Part B, 65 (2010) 441-444.

6.         K. Tsuji, K. Nakano, Y. Takahashi, K. Hayashi, C.-U. Ro, X-ray Spectrometry, Anal. Chem., 82 (2010) 4950-4987.

7.         中野 和彦、辻 幸一、「走査型共焦点蛍光X分析法による試料表面および表面近傍の三次元元素分析」、表面科学31 (2010) 331-336.

 

2009 year

1.         K. Nakano, K. Tsuji, Nondestructive elemental depth profiling of Japanese lacquerware Tamamushi-nuri by confocal 3D-XRF analysis in comparison with micro GE-XRF, X-Ray Spectrom., 38 (2009) 446-450.

2.         T. Awane, K. Nakamachi, K. Tsuji, Effects of an X-ray absorber in grazing exit micro x-ray fluorescence analysis of arsenic attached to an aqueous leaf of Cammelia hiemalis, e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, 7 (2009) 841-846.

3.         J. Yang, K. Tsuji, X. Lin, D. Han, X. Ding, A micro x-ray fluorescence analysis method using polycapillary x-ray optics and grazing exit geometry, Thin Solid Films, 517 (2009) 3357-3361.

4.         中村 卓也、松井 宏、川又 誠也、中野 和彦、片山 貴子、日野 雅之、鰐渕 英機、荒波 一史、山田 隆、辻 幸一、「血液中金属元素の全反射蛍光X線分析」、X線分析の進歩40 (2009) 249-257.

5.         T. Awane, S. Fukuoka, K. Nakamachi, K. Tsuji, Grazing Exit Micro X-ray Fluorescence Analysis of Hazardous Metal Attached to a Plant Leaf Surface Using an X-ray Absorber Method, Anal. Chem., 81 (2009) 3356-3364.

6.         A. Matsuda, K. Nakano, S. Komatani, S. Ohzawa, H. Uchihara, K. Tsuji, Fundamental characteristics of polycapillary x-ray optics combined with glass conical pinhole for micro x-ray fluorescence spectrometry, X-Ray Spectrom., 38 (2009) 258-262.

7.         K. Nakano, K. Okubo, K. Tsuji, Preconcentration of environmental waters by agar for XRF analysis, Powder Diffraction, 24 (2009) 135-139.

8.         川又 誠也、中野 和彦、辻 幸一、「玩具の表面から溶出する微量な重金属をモニターする」、70回分析化学討論会 展望とトピックス(2009) 8.

 

2008 year

1.         幸一、「X線発光分光」、分光研究57 (2008) 29-41.

2.         幸一、「実験室における微小部蛍光X線分析の利用」、「ナノイメージング」、エヌ・テイー・エス(2008) 305-320.

3.         中野 和彦、辻 幸一、「共焦点三次元蛍光X線分析」、「ナノイメージング」、エヌ・テイー・エス(2008) 450-457.

4.         K. Tsuji, T. Yonehara, K. Nakano, Application of confocal 3D micro XRF for solid/liquid interface analysis, Anal. Sci., 24 (2008) 99-103.

5.         A. Matsuda, Y. Nodera, K. Nakano, K. Tsuji, X-ray Energy Dependence of the Properties of the Focused Beams Produced by Polycapillary X-ray Lens, Anal.Sci., 24 (2008) 843-846.

6.         西田 洋介、辻 幸一、「粘着性テープを用いた蛍光X線分析用簡易サンプリング方法」、X線分析の進歩39 (2008) 179-187.

7.         米原 翼、辻 幸一、「照射・検出同軸型の微小部XRFプローブの開発」、X線分析の進歩39 (2008) 95-104.

8.         T. Yonehara, K. Tsuji, Development of a compact XRF probe using a ring-type secondary target, X-Ray Spectrom., 37 (2008) 503-507.

9.         石井 真史、栗崎 敏、高山 透、辻 幸一、沼子 千弥、林 久史、前尾 修司、松尾 修司、村松康司、森 良弘、横溝 臣智、渡部 孝、「2007年X線分析関連文献総合報告」、X線分析の進歩39 (2008) 27-46.

10.     K. Tsuji, K. Nakano, H. Hayashi, C. U. Ro, X-Ray Spectrometry, Anal. Chem., 80 (2008) 4421-4454.

11.     J. Liang, Z. Li, K. Tsuji, K. Nakano, M. J. R. Nout, R. J. Hamer, Milling characteristics and distribution of phytic acid and zinc in rice kernels, Journal of Cereal Science, 48 (2008) 83-91.

12.     K. Tsuji, K. Nakano, M. Yamaguchi, T. Yonehara, Micro and imaging x-ray analysis by using polycapillary x-ray optics, Proc. SPIE, 7077 (2008) 70770W-18.

13.     K. Nakano, A. Matsuda, Y. Nodera, and K. Tsuji, Improvement of spatial resolution of μ-XRF by using a thin metal filter, X-Ray Spectrom., 37 (2008) 642-645.

14.     J. Yang, K. Tsuji, D. Han, and X. Ding, GE-MXRF analysis of multilayer films, X-Ray Spectrom., 37 (2008) 625-628.

 

2007 year

1.         幸一、「蛍光X線法」(分担執筆)、「表面物性工学ハンドブック 第2版」、丸善、2007, 184-188.

2.         K. Tsuji, “X-ray Technology”, in Kirk-Othmer Encyclopedia of Chemical Technology, 5th ed., ed. A. Seidel, John Wiley & Sons, Inc., Vol. 26 (2007) pp.411-444.

3.         桜井 健次、辻 幸一、中野 和彦、林 久史、松尾 修司、森 良弘、渡部 孝、「2006年X線分析関連文献総合報告」、X線分析の進歩, 38 (2007) 67-88.

4.         K. Tsuji, K. Nakano, X. Ding, Development of Confocal Micro-XRF Instrument using Two X-ray Beams, Spectrochim. Acta B, 62 (2007) 549-553.

5.         K. Tsuji, K. Nakano, Development of Confocal 3D micro XRF Spectrometer with Cr-Mo Dual Excitation, X-Ray Spectrom., 36 (2007) 145-149.

6.         堤本 薫、辻 幸一、固液界面用蛍光X線分析法の提案と化学めっき過程の観察、分析化学56 (2007) 499-504.

7.         廣瀬 幸範、本田 和仁、前川 和義、宮崎 博史、上殿 明良、辻 幸一、合金シードを用いためっきCu薄膜のキャラクタリゼーション、分析化学56 (2007) 465-470.

8.         幸一、「境界領域から生まれる融合的な分析科学」、ぶんせき(ロータリー、談話室)2007(5), 255.

9.         幸一、野寺 雄太、中野 和彦、共焦点型3次元蛍光X線分析装置の開発と微小部深さ方向分析への応用、表面科学28 (2007) 447-452.

10.     K. Tsutsumimoto, K. Tsuji, Time-resolved X-ray fluorescence for monitoring the intake of mineral nutrients in living plants, X-Ray Spectrom., 36 (2007) 324-327.

11.     幸一、中野 和彦、「共焦点型3D蛍光X線分析装置による実験室での3D元素マッピング」、まてりあ, 46 (2007) 833.

12.     幸一、「分析装置の解体」、日産アークMONTHLY, 16 (2007) No.10, p.3.

 

2006 year

1.         田中 啓太、堤本 薫、荒井 正浩、辻 幸一、ポリキャピラリーX線レンズの特性評価、X線分析の進歩、37 (2006) 289-300.

2.         河合 潤、桜井 健次、辻 幸一、林 久史、松尾 修司、森 良弘、渡辺 孝、「2005年X線分析関連文献総合報告」、X線分析の進歩, 37 (2006) 25-44.

3.         K. Tetsuoka, T. Nagamura, K. Tsuji, Improvement of reproducibility in grazing-exit EPMA (GE-EPMA), X-Ray Spectrom., 35 (2006) 89-92.

4.         K. Tsuji, A. Matsuda, K. Nakano, A. Okhrimovskyy, X-ray fluorescence analysis of soft materials using needle-type collimators enabling greater tolerance in analysis depth, Spectrochim. Acta B, 61 (2006) 460-464.

5.         K. Tsuji, Y. Hanaoka, A. Hibara, M. Tokeshi, T. Kitamori, Total reflection X-ray fluorescence analysis with chemical microchip, Spectrochim. Acta B, 61 (2006)389-392.

6.         Andriy Okhrimovskyy, K. Tsuji, Numerical approach for depth profiling with GE-XRF, X-Ray Spectrom., 35 (2006) 305-311.

7.         幸一、「ポリキャピラリーX線レンズの基礎と応用」、ぶんせき「解説記事」8月号, (2006) 378-382 .

8.         中野 和彦 幸一 共焦点型蛍光X線分析装置の開発と米試料の三次元分析, 分析化学55 (2006) 427-432.

9.         松田 晃典、辻 幸一、ニードル型コリメーターを用いた試料内部微小空間の蛍光X線分析、分析化学、55 (2006)681-687.

10.     Andriy Okhrimovskyy, K. Saito, K. Tsuji, Theoretical characterization of reflector-assisted TXRF analysis, e-Journal of. Surface Science and Nanotechnology, 4 (2006) 579-583.

11.     中野 和彦、辻 幸一、「コメ一粒における3次元の元素分布を可視化する」、第67回分析化学討論会、展望とトピックス、(2006) p.23.

12.     Andriy Okhrimovskyy, T. Moriyama, K. Tsuji, Investigation of Experimental Arrangements in X-ray Fluorescence Analysis Using Ultra-Thin Sample Carrier, Memoirs of the Faculty of Engineering Osaka City University, 47 (2006) 21-24.

13.     K. Tsuji, M. Kawamata, Y. Nishida, K. Nakano, K. Sasaki, Micro Total Reflection X-ray Fluorescence (Micro-TXRF) Analysis, X-ray Spectrometry, 35 (2006) 375-378.

14.     K. Nakano, K. Tsuji, M. Kozaki, K. Kakita, A. Ono, T. Nakamura, Development Plastic Certified Reference Material for XRF analysis (JSAC)containing Pb,Cd,Cr;Part1.Sample Preparation and Homogeneity test , Advances in X-ray Analysis, 49 (2006) 280-286.

15.     K.Tsuji, K.Tsutsumimoto, K.Nakano, K.Tanaka, A.Okhrimovskyy, Y.Konishi, and X.Ding, Time-Resolved μ-XRF and Elemental Mapping of Biological Materials, Advances in X-ray Analysis, 49 (2006) 296-301.

16.     K. Nakano, K. Tanaka, X. Ding, K. Tsuji, Development of a New TXRF Instrument using Polycapillary X-ray Lens, Spectrochim. Acta B, 61 (2006)1105-1109.

17.     幸一, 蛍光X線測定による非破壊的な深さ方向元素分析、放射線と産業、112 (2006) 14-19.

18.     慎一郎、廣瀬 由紀子、辻 幸一、リング状グロー放電X線管の試作、大阪市立大学工作技術センターレポートFabrica18 (2006) 21-26.

 

2005 year

1.         幸一、「斜出射蛍光X線分析」(分担執筆)、「蛍光X線分析の実際」(朝倉書店、p.206-207, 2005年).

2.         幸一、「分析電子顕微鏡」(分担執筆)、「機器分析の事典」(朝倉書店、p. 239-241, 2005年)

3.         松岡 代志子、細川 好則、日野 雅之、辻 幸一、全反射蛍光X線分析のための血液試料サンプリング方法の検討、分析化学54 (2005)749-753

4.         中田 宗寛、辻 幸一、全反射蛍光X線分析のためのグロー放電スパッタリングによる試料作製、J. Surf. Anal., 12 (2005) 303-307.

5.         江本 哲也、小西 洋太郎、X. Ding, 幸一、キノア種子のX線元素マッピングにおける自己吸収の影響の軽減、X線分析の進歩36 (2005) 267-274.

6.         K. Tsuji, T. Emoto, Y. Matsuoka, Y. Miyatake, T. Nagamura, and X. Ding, Micro-XRF Instrument Developed in Combination with Atomic Force Microscope, Powder Diffraction 20 (2005) 137-140.

7.         K. Tsuji, T. Emoto, Y. Nishida, E. Tamaki, Y. Kikutani, A. Hibara, T. Kitamori, Grazing-Exit and Micro X-ray Fluorescence Analyses for Chemical Microchips, Anal. Sci. 21 (2005)799-803.

8.         幸一、「蛍光X線分析における近年の要素技術の進歩と特殊な測定方法」(解説記事)X線分析の進歩36 (2005) 63-74.

9.         K. Tsuji, K. Nakano, X. Ding, Micro X-ray Fluorescence Analysis at OCU, Physics Testing and Chemical Analysis, Part B Chemical Analysis, 141 (2005) 20.

10.     K. Tsuji, T. Emoto, Y. Matsuoka, Y. Miyatake, T. Nagamura, and X. Ding, Micro-XRF Instrument Developed in Combination with Atomic Force Microscope, Advances in X-Ray Analysis.,48 (2005) 221-228.

11.     K. Tsuji, T. Emoto, Y. Nishida, K. Tsutsumimoto, K. Nakano, E. Tamaki, Y. Kikutani, A. Hibara, T. Kitamori, Application of X-ray fluorescence analysis for chemical microchips, Proceedings of m-TAS 2005 conference, Vol. 2 (2005) 991-993.

12.     K. Tsuji, Grazing-exit electron probe x-ray microanalysis (GE-EPMA): Fundamental and applications (Review article), Spectrochim. Acta, B, 60 (2005) 1381-1391.

 

2004 year

1.    “X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances”, edited by K. Tsuji, J. Injuk, R. E. Van Grieken, John Wiley & Sons, Ltd, の編集 (20043月出版) .

2.    K. Tsuji, Grazing-Exit X-Ray Spectrometry(分担執筆), “X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances”, edited by K. Tsuji, J. Injuk, R. E. Van Grieken, John Wiley & Sons, Ltd, (2004) p. 293-305.

3.    幸一、「全反射蛍光X線分析」(分担執筆)、「新訂版・表面科学の基礎と応用」、日本表面科学会編、(2004) p. 709-715.

4.    幸一、「蛍光X線分析」(分担執筆)「放射光科学入門」(東北大学出版会, p.274-2792004.

5.    K. Tsuji, F. Delalieux, Characterization of X-rays emerging from between reflector and sample carrier in reflector-assisted TXRF analysis, X-Ray Spectrom., 33 (2004) 281-284.

6.    幸一、反射板を利用した全反射蛍光X線分析の基礎検討、X線分析の進歩35 (2004) 193-200.

7.    Z. Spolnik, K. Tsuji, R. Van Grieken, Grazing-exit electron electron probe x-ray micro analysis of light elements, X-Ray Spectrom., 33 (2004) 16-20.

8.    T. Emoto, Y. Sato, Y. Konishi, X. Ding, K. Tsuji, Development and applications of a grazing exit micro x-ray fluorescence instrument using a polycapillary x-ray lens, Spectrochim. Acta B, 59 (2004)1291-1294.

9.    幸一、早川 慎二郎、「微小部X線分析 −TXRF2003サテライト会議での話題を中心に−」、理学電機ジャーナル35 (2004)13-17.

10. K. Tsuji, T. Sakai, S. Yamamoto, “Fundamental Research of Grazing-Exit PIXE”, Japan Atomic Energy Research Institute, TIARA annual report, JAERI-Review 2004-025 (2004) 272-273.

11. 幸一、「斜出射配置における電子線プローブマイクロアナリシス」、日本電子NEWS36 (2004) 16-19.

12. K. Tsuji, “Grazing-Exit Electron Probe Microanalysis (GE-EPMA)”, JEOL NEWS, 39 (2004)52-55.

13. K. Tsuji, Micro-Trace X-ray Analysis Development of Grazing-Exit-Micro X-Ray Fluorescence (GE-m-XRF) in Combination with Atomic Force Microscope (AFM)-, The proceedings of the 12th Osaka City University, International Symposium, 27-29 October, 2004, p137-142.

 

2003 year

1.    K. Tsuji, K. Tetsuoka, F. Delalieux, S. Sato, Calculation of electron-induced x-ray intensities under grazing-exit conditions, e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 1 (2003) 111-115.

2.    K. Tsuji and F. Delalieux, Feasibility study of 3 dimensional XRF spectrometry using m-x-ray beam under grazing-exit conditions, Spectrochim. Acta B , 58 (2003) 2233-2238.

3.    K. Tsuji, S. Hayakawa, T. Hari, K. Yamane, N. Kometani, Y. YonezawaSpring User Experiment ReportNo. 11 (2003A), (2003) 179.

4.    幸一、「斜出射X線分析−EPMAXRFへの応用」、ぶんせき338 (2003) 83-88

5.    幸一、早川 慎二郎、張 利広、山根 一真、米谷 紀嗣、米澤 義朗、「X線マイクロビームを用いるナノメーターレベルでの深さ方向分析」、文部科学省 ナノテクノロジー総合支援プロジェクト Spring-8 研究成果報告書、vol. 2 2003A (2003) 151-152.

6.    幸一、「斜出射X線測定型−微小部蛍光X線分析装置の開発」、大阪市立大学ナノサイエンス・ナノテクノロジーフォーラム報告書 vol.2 (2003)47-48.


* TXRF2003サテライト会議の要旨集"TXRF2003 Satellite Meeting on Micro X-Ray Beam Analysis"は残部が少しあります。
ご連絡頂ければお送りします。

2002 year

A. Original papers (原著論文)

1.      Z. Spolnik, K. Tsuji, K. Saito, K. Asami, K. Wagatsuma, Quantitative analysis of metallic ultra-thin films by grazing-exit electron probe x-ray microanalysis, X-Ray Spectrometry, 31 (2002) 178-183.

2.      Z. Spolnik, J. Zhang, K. Wagastuma, K. Tsuji, Grazing-exit electron probe x-ray microanalysis of ultra-thin films and single particles, Anal. Chim. Acta. 455 (2002) 245-252.

3.      K. Tsuji, K. Saito, K. Asami, K. Wagatsuma, F. Delalieux, Z. Spolnik, Localized Thin-Film Analysis by Grazing-Exit EPMA (GE-EPMA), Spectrochim. Acta. B 57 (2002) 897-906.

4.      J. Injuk, J. Osan, R. Van Grieken, K. Tsuji, Airborne particles in the Miyagi Museum of Art in Sendai, Japan, Studied by Electron Probe X-Ray Microanalysis and Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis, Anal. Sci. 18 (2002) 561-566.

5.      K. Tsuji, K. Wagatsuma, Enhancement of TXRF Intensity by Using a Reflector, X-Ray Spectrom. 31 (2002) 358-362.

6.      K. Tsuji and F. Delalieux, Micro x-ray fluorescence using a pinhole aperture in quasi-contact mode, J. Anal. At. Spectrom. 17 (2002) 1405-1407.

7.      K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, K. Saito, K. Asami, Characterization of thin-films at small region by grazing-exit electron probe microanalysis, Mater. Trans. JIM. 43 (2002) 414-416.

8.      F. Delalieux, K. Tsuji, K. Wagatsuma, R. Van Grieken, Material analysis methods applied to the study of ancient monuments, works of art and artefacts, Mater. Trans. 43 (2002) 2197-2200.

 

B. Others (その他(解説など)

1.         幸一、「斜出射X線測定と走査型トンネル顕微鏡を用いる局所表面分析」、分析化学, 51 (2002) 605-612.

2.         幸一、「X線分析関連の3つの国際会議報告」、ぶんせき2002 (2002) 533.

3.         幸一、「斜出射X線分析のEPMAへの応用」、日本電子()EPMA・表面分析ユーザーズミーティング解説書、(2002)

 

C. Invited talks (国際会議などでの招待講演)

1.         K. Tsuji, “Microscopic X-Ray Surface Analysis at Grazing-Exit Geometry”, 5th International Topical Meeting on Industrial Radioisotope and Radiation Measurement Applications (IRRMA-V), 9 -14 June 2002, Bologna, Italy.

2.         K. Tsuji, “Grazing-Exit X-Ray Spectrometry Applied to Microscopic Surface Analysis”, 9th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2002), Funchal, Madeira, Portugal, 8 - 13 September 2002.
 辻 幸一、「斜出射X線分析のEPMAへの応用」2002年度日本電子EPMA・表面分析ユーザーズミーティング、平成149/span>27

 

D. Presentations at international conferences (国際会議での発表)

1.         K. Tsuji, Y. Hasegawa, T. Sakurai, X-Ray Excitation Combined with STM, Program of the IMR Workshop “Dr. Rohrer’s JSPS Workshop”, 5-6 March, 2002 (poster).

2.         F. Delalieux and K. Tsuji, “Feasibility Study of Three Dimensional X-Ray Fluorescence Analysis of Japanese Art Crafts”, 7th International Conference on Non-destructive Testing and Microanalysis for the Diagnostics and Conservation of the Cultural and Environmental Heritage (ART2002), 2-6 June 2002, Antwerp, Belgium (poster).

3.         Z. Spolnik, K. Tsuji, R. Van Grieken, “Grazing-Exit Electron Probe X-Ray Micro Aanalysis of Light Elements”, European Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDXRS2002), 16-21 June 2002, Berlin, Germany (poster).

4.         K. Tsuji, “Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis using a Si Reflector”, European Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDXRS2002), 16-21 June 2002, Berlin, Germany (poster).

5.         F. Delalieux, K. Tsuji, K. Wagatsuma and S. Sato, “Calculation of GE-EPMA Intensity and Thin-Film Analysis”, European Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDXRS2002), 16-21 June 2002, Berlin, Germany (poster).

6.         F. Delalieux, K. Tsuji, “Feasibility Study of Three-Demensional XRF Spectrometry Using A Pinhole Aperture in Quasi-Contact Mode”, European Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDXRS2002), 16-21 June 2002, Berlin, Germany (poster).

7.         Z. Spolnik, K. Tsuji and R. Van Grieken, “Grazing-exit electron probe x-ray micro analysis of light elements in particles”, 9th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2002), Funchal, Madeira, Portugal, 8 - 13 September 2002 (poster).

8.         K. Tsuji and F. Delalieux, “Feasibility Study of Three-Demensional XRF Spectrometry Using A Pinhole Aperture in Quasi-Contact Mode”, IMR (Tohoku Univ.) workshop, 11-12 November 2002, Sendai, Japan (poster).

 

E. Patents (特許)

1.         幸一、試料基板と反射板を用いてX線が多重反射して収束する機構にした全反射蛍光X線分析法および該分析装置、特願2002-1009

2.         幸一、擬接触型キャピラリーを用いる微小領域X線分析方法及びその装置、特願2002-145760